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一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法
Application NumberCN201210122908.0
封国强; 韩建伟; 朱翔; 姜昱光; 上官士鹏; 陈睿; 马英起; 余永涛
2012
Application Date2012-04-24
Date Available2012-08-15
Country中国
Abstract本发明公开了一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置,包括FPGA测试电路、时序控制电路和上位机控制模块;其中,时序控制电路连接到FPGA测试电路,FPGA测试电路连接到上位机控制模块;在测试过程中,FPGA测试电路、时序控制电路分别与被测FPGA相连,而时序控制电路还要连接到单粒子效应试验装置上;时序控制电路生成用于被测FPGA的工作时序控制信号以及用于单粒子效应试验装置的辐射时序控制信号;FPGA测试电路用于保存被测FPGA的配置数据,并实现配置数据在被测FPGA上的配置与回读;还用于与被测FPGA以及上位机控制模块的数据传输,以及对时序控制电路的触发;上位机控制模块用于控制FPGA测试电路,对在不同工作状态下被测FPGA的配置数据、工作数据分别加以比较。
Language中文
Document Type专利
Identifierhttp://ir.nssc.ac.cn/handle/122/2163
Collection保障部/保障与试验验证中心
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GB/T 7714
封国强,韩建伟,朱翔,等. 一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法[P]. 2012-01-01.
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