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NSSC OpenIR  > 微波遥感部  > 专利
题名: 一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法
专利申请号: CN201610577183.2
作者: 武林; 刘浩; 金梦彤; 张成; 吴季
申请日期: 2016-07-20
专利类型: 发明专利
分类号: G01J5/60(2006.01)I
中文摘要: 本发明涉及一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法，包括：测量一维干涉式微波辐射计中各单元天线的二维天线方向图，并对天线单元阵列进行稀疏排布，形成满足成像要求的基线覆盖；将二维天线方向图转换为一维天线方向图，并利用转换得到的一维天线方向图计算得到一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵；利用一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵和系统测量并校准后的可见度函数，进行图像反演得到高精度亮温图像。
国别: 中国
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/5719
Appears in Collections:微波遥感部_专利

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2016105771832.pdf（2077KB）专利--限制开放
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文件名： 2016105771832.pdf
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