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A case study of failure analysis and root cause identification on ESD-induced breakdown
Liu, Hongmin; Li, Zhe; Weng, Zheng
作者部门保障部/保障与试验验证中心
会议录名称Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis
2016
页码291-293
语种英语
ISBN号9781627081351
会议名称42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2016
会议日期November 6, 2016 - November 10, 2016
会议地点Fort Worth, TX, United states
收录类别EI ; CPCI
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/5853
专题保障部/保障与试验验证中心
推荐引用方式
GB/T 7714
Liu, Hongmin,Li, Zhe,Weng, Zheng. A case study of failure analysis and root cause identification on ESD-induced breakdown[C],2016:291-293.
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