Knowledge management system National Space Science Center,CAS
一种基于碳膜二次电子产额的原子鉴别系统及方法 | |
Application Number | CN202010806017.1 |
常远; 余庆龙; 路立![]() | |
2020 | |
Application Date | 2020 |
Date Available | 2020 |
Country | 中国 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/7309 |
Collection | 中国科学院国家空间科学中心 |
Affiliation | 中国科学院国家空间科学中心 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 常远,余庆龙,路立,等. 一种基于碳膜二次电子产额的原子鉴别系统及方法[P]. 2020-01-01. |
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